CONCRETO & Construções | Ed. 86 | Abr – Jun • 2017 | 67
passo que o EDS permite identificar a
composição química, apontando ele-
mentos químicos na área na qual se
encontra o composto mineralógico,
tornando possível seu diagnóstico.
ENTENDENDO A TÉCNICA DA
MICROSCOPIA ELETRÔNICA
DE VARREDURA
O microscópio eletrônico de var-
redura utiliza um feixe de elétrons,
diferentemente dos fótons, isto é,
radiação de luz, utilizados no micros-
cópio óptico convencional, o que
permite solucionar o problema de
resolução ligado à profundidade de
campo nas altas ampliações. A ima-
gem, por sua vez, não é colorida por
ser uma imagem eletrônica, ao con-
trário do microscópico óptico que
permite observar imagens de distin-
tas colorações e tonalidades.
O MEV convencional apresen-
ta uma coluna óptico-eletrônica
adaptada a uma câmara com porta-
-amostra aterrado, sistema eletrôni-
co, detectores e sistema de vácuo
(Figura 1).
Os princípios e passos básicos
que envolvem o MEV são:
u
Uma corrente de elétrons é formada
por uma fonte de elétrons e acele-
rada em direção à amostra, usando
um potencial elétrico positivo;
u
Essa corrente é confinada e focali-
zada, usando aberturas de metal e
lentes magnéticas, a um feixe mo-
nocromático fino e condensado;
u
Esse feixe é focalizado em cima da
amostra usando uma lente mag-
nética;
u
Interações ocorrem dentro da
amostra irradiada, afetando o fei-
xe de elétrons – essas interações
e efeitos são detectados e trans-
formados em uma imagem.
Pelas análises no MEV podem ser
obtidas as seguintes informações:
u
Topografia:
superfície da amostra
e sua textura, isto é, os aspectos
ligados às propriedades do mate-
rial (dureza, refletância, etc);
u
Morfologia:
a forma e o tamanho
das fases que formam a amostra,
isto é, a estrutura e as proprieda-
des do material (ductibilidade, re-
sistência, reatividade);
u
Composição:
os elementos e
compostos da amostra e as quan-
tidades relativas deles, relaciona-
das diretamente com a composi-
ção e propriedades dos materiais
(ponto de fusão, reatividade, dure-
za, etc); e
u
Informação cristalográfica:
a ma-
neira como os átomos estão or-
denados na amostra – existe uma
relação direta entre essa ordenação
e as propriedades do material (con-
ductibilidade, propriedades elétri-
cas, resistência, etc).
A técnica de MEV permite traba-
lhar com amostras espessas, de alta
resolução (30Å), grande profundi-
dade de foco (300 vezes melhor do
que o microscópio ótico) e imagens
tridimensionais.
Os principais detectores para
análise no MEV são: os de elétrons
secundários (SE), os de elétrons re-
troespalhados (BSE) e os de Raios X.
Elétrons secundários (SE)
São os responsáveis pela forma-
ção da imagem tridimensional e in-
formações topológicas da superfície
da amostra. Nesse tipo de análise
a amostra ideal é de superfície de
fratura, principalmente para a identi-
ficação da morfologia dos produtos
investigados (Fotos 1 e 2).
Elétrons retroespalhados (BSE)
A análise é feita principalmente
em superfícies polidas, para assim
facilitar as identificações de fases
da amostra. Essa forma de análise
permite investigar as diferentes fases
presentes nas amostras, através de
seus tons de cinza, conforme o nú-
mero atômico médio dessas fases.
Quanto maior for o número atômico
FOTO 1
Aspecto ao microscópio eletrônico dos
cristais de carbonato de cálcio (C),
oriundos da carbonatação do concreto
– aumento de 10.000x – Elétrons
Secundários. Os cristais de carbonato
de cálcio são romboédricos, muito bem
formados e disseminados pelo concreto.
FOTO 2
Aspecto ao microscópio eletrônico
da baixa coesão da argamassa (C)
– aumento de 1.000x – Elétrons
Secundários. Esse aspecto da
microestrutura do concreto resultando
em argamassa menos coesa indica
traço pobre em cimento (pouca pasta).
C
C
C
